半導体工学の先見者、サンディープ・デソウザ博士へのインタビュー
インタビュアー： サンディープさん、ようこそ！本日はご参加いただきありがとうございます。まずはあなたのことをもっとよく知ることから始めましょう。自己紹介と趣味や興味のあることを教えてください。
サンディープ・デソウザ: ご招待いただきありがとうございます。私の名前はサンディープ・デソウザです。サンディエゴを拠点とする電気技師で、ここ 11 年間サンディエゴに住んでいます。仕事以外では、旅行、新しい料理の探求、ハイキングが大好きです。また、妻と息子と一緒にボランティアの地域奉仕活動に費やす時間も大切にしています。これは、コミュニティとつながり、有意義な貢献をする素晴らしい方法です。
インタビュアー： それは非常にやりがいのあることですね。では、あなたの職業上の経歴についてお聞きしますが、半導体業界での豊富な経験について簡単に教えていただけますか?
サンディープ・デソウザ: もちろんです。私は 1997 年から半導体業界に携わっています。学歴は、UCLA で博士号、パデュー大学で修士号、ボンベイのインド工科大学で学士号を取得しており、すべて電気工学の分野です。これまでのキャリアを通じて、8 冊の出版物を執筆し、40 件を超える特許の取得済みまたは申請中の発明者でもあります。
直近では、昨年 12 月までサンディエゴの Qualcomm で主席システム エンジニアとして勤務していました。そこでは、業界初の超音波指紋センサー (世界中で 1 億 5,000 万台以上のデバイスに搭載されている) や、モバイル デバイス向けのスマート ハプティクスやその他のマルチメディア研究開発技術の開発など、いくつかの先駆的なプロジェクトに貢献しました。
Qualcomm に入社する前、2011 年から 2013 年まで、私はレドンド ビーチの Semtech Corporation で主任ミックスド シグナル IC 設計エンジニアを務めていました。私の仕事は、コヒーレント光トランシーバーやデジタル マイクロ波トランシーバーで使用するための超高速アナログ - デジタルおよびデジタル - アナログ データ コンバーターに重点を置いていました。
それより前の 2009 年から 2011 年にかけて、私は UCLA の高速エレクトロニクス研究所で Frank Chang 教授の指導の下、博士研究員として従事していました。そこで、自己修復型 60GHz ワイヤレス トランシーバー用の 10 ビット、2 GSample/秒の DAC を設計しました。
UCLA に勤務する前は、2006 年から 2009 年までカリフォルニア州アーバインの Skyworks Solutions で RFIC 設計者として勤務し、業界初のシングルチップ、マルチバンド WCDMA/EDGE/GSM セルラー トランシーバーの開発に携わりました。私のキャリアはカリフォルニア州ニューポート ビーチの Conexant Systems で始まり、1997 年から 2005 年までアナログ/ミックスド シグナル/RF 半導体デバイス モデリング エンジニアとして勤務しました。
インタビュアー： サンディープさん、ElevATE に移ったきっかけは何ですか? また、そこで果たしている役割について教えてください。
サンディープ・デソウザ: ElevATE に入社しようと決めた主な理由は、半導体業界で自動テスト装置 (ATE) が果たす重要な役割です。ATE は、集積回路が約束された機能セット、パフォーマンス、信頼性を確実に実現するために不可欠です。集積回路の価値は設計のみで決まるとよく考えられています。しかし、理解を深めると、真のテストは評価段階で行われることがわかります。つまり、チップはテストされた品質でしか評価されないのです。
ElevATE では、業界をリードする他のチップをテストするチップに取り組んでいます。つまり、当社の製品はさらに高いレベルでパフォーマンスを発揮する必要があります。当社のデバイスは、テストする高品質のデバイスと比較して、より正確で高速であり、より広い電圧および電流範囲で動作できる必要があります。
さらに、ElevATE の環境は、経営陣が作り上げた小規模企業のような支援的で育成的な雰囲気によって育まれています。この環境により、深い技術的専門知識を持つチームが真に大きなインパクトを与え、最大限の能力を発揮することができます。
インタビュアー： 現在の役割と注力しているプロジェクトについて説明していただけますか?
サンディープ・デソウザ: もちろんです。私は現在、エンジニアリング担当副社長の Simon Leigh の監督の下、設計チーム内で主席システム エンジニアを務めています。現在の主なプロジェクトは、Whitney の 2 チャネル、高電圧、高度に統合されたシステム オン チップ (SOC) パラメトリック測定ユニット (PMU) です。この SOC は、半導体デバイスのテストに不可欠な複数の機能を実行できます。Whitney の各チャネルは、電圧の強制、電流の強制、電圧の測定、電流の測定、ウィンドウ比較測定を実行でき、これらの機能を実現するために 6 つの 16 ビット DAC が使用されています。Whitney の機能は、最大 50MHz のクロックが可能な SPI インターフェイスを通じて管理されます。
Whitney プロジェクトに加えて、私は次世代 PMU のロードマップの定義にも携わっています。これには、ATE 用の汎用 PMU のほか、電気自動車 (EV) や据置型バッテリー エネルギー ストレージ システム (BESS) のバッテリー管理システム (BMS) 用の ATE をターゲットにした特定の PMU アーキテクチャが含まれます。これらのプロジェクトは、半導体テストの能力を高め、進化する市場のニーズに応えるために不可欠です。
