ATE文章

Reducing Cost of Test – Innovating the Future of Test. Featuring: Rainier
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作者:Elevate 工程副總裁 Simon Leigh 隨著測試變得越來越複雜,ATE 供應商必須不斷……

Acing the Test: The Chips Behind the Chips. Engineering.com
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通過測試:芯片背後的芯片。 ENGINEERING.COM 至關重要的 ATE 行業從未面臨過如此多的挑戰,但像這樣的公司......

Using FPGA for Format and Timing Generation for Semiconductor ATE
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ATE 數字系統傳統上由定序器、格式器、定時發生器和引腳電子設備組成。關於將哪些組件用於……的決定

Automatic Test Equipment Market (ATE) Today
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多家半導體公司在多種不同工藝中提供了用於引腳電子 (PE) 的典型集成電路 (IC) 解決方案……

MIPI Specifications and Testing
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MIPI 規範和測試 ATE 文章/作者:admin 移動行業處理器接口 (MIPI®) 標准定義了設計的行業規範……

Mt. Mystery, Achieving the Pin Electronics Trifecta
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隨著技術的發展,以及人工智能、深度學習、機器學習、汽車、物聯網、醫療保健等領域對下一代芯片的需求增加……

ElevATE DPS – Powering the Next Generation of Test
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設備電源 (DPS) 半導體提供靈活的電壓和電流力測量功能,以滿足廣泛的測試……

Elevate Intro
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ELEVATE:集成測試技術的世界領導者半導體測試的基礎知識:技術愛好者知道摩爾定律,其中規定了數字……