차세대 반도체 테스트 전력 공급 디바이스

신비

SOC Octal 500 MHz 통합 핀 일렉트로닉 / DAC / PPMU / Deskew

Mystery는 모든 아날로그 기능을 통합 한 고도로 통합된 System-on-a-Chip(SoC) PE 솔루션이며, 자동화 테스트 장비를 위한 8개의 독립적인 채널에 필요한 모든 디지털 지원 회로가 포함되어 있습니다. 각 채널은 50MHz SPI 인터페이스를 통해 설정되며, 모든 실시간 데이터는 multiple single-ended 및 differential logic을 통하여 다른 장치에 직접 인터페이스하도록 구성할 수 있습니다.

미스터리 다이와 칩
풍모

 

  • 핀 전자 장치 드라이버 / 비교기
    • Hi-Z 기능을 갖춘 듀얼 모드 3 레벨 드라이버 (DVH, DVL, VTT)
      • HV (고전압) 드라이버 모드
      • –2V ~ + 6V 범위에서 25mV ~ 8V 스윙
      • 프로그래밍 가능한 드라이버 슬 루율
      • HS (고속) 드라이버 모드
        • 0V ~ + 4V 범위에서 25mV ~ 4V 스윙
    • 최대 8V 비교기 입력 범위
    • 1GHz 비교기 등가 대역폭
    • 전체 I / O 범위에서 매우 낮은 Hi-Z 누설
    • 단락 보호
    • 핀당 PMU (PPMU)
      • FV, FI, MV, MI
      • 4 사분원 작동
      • –2V ~ + 6V FV / MV 범위
      • 5 개의 전류 범위 (± 2μA, ± 20μA, ± 200μA, ± 2mA, ± 50mA)
      • 프로그래밍 가능 전압 및 전류 클램프
      • 저항성 부하 기능 (12 개의 선택 가능한 저항 값)
    • 핀당 활성 하중
      • ± 24mA 최대 전류
      • 독립적으로 프로그래밍 가능한 전류 소스, 전류 싱크 및 정류 전압 레벨
    • 핀당 타이밍 기울기 보정
    • 전파 지연 조정
      • 7ns 지연 조정 범위
      • 10ps 지연 조정 해상도
    • 온 칩 DC 레벨
      • 채널당 12 개의 True DAC 레벨 (샘플 및 홀드 아님)
      • 레벨 당 게인 및 오프셋 수정
      • 16 비트 해상도 / 14 비트 정확도
      • DUT 접지 감지 및 수정 (칩당 1 개)
    • 50MHz SPI 인터페이스
    • 고속 FLEX I / O
    • 아날로그 측정 버스
    • 매우 작은 PCB 공간
    • 14mm x 14mm, 144 Ball FcBGA (1.0mm 피치)
    • 채널당 Pmax <800mW

    응용 프로그램
    • 자동화 된 테스트 장비
    • 수단
    • ASIC 검증기
     

     

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