차세대 반도체 테스트 전력 공급 디바이스
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Europa (ISL55180)

ISL55180은 8 개의 독립 DUT 전원 공급 장치 (DUT) 유닛을 통합 한 고도로 집적 된 SOC (System Under Chip) DUT (Device Under Test) 전원 공급 장치 솔루션입니다.

인터페이스, 컨트롤 및 I / O는 디지털입니다. 모든 아날로그 회로가 칩 내부에 있습니다. 대부분의 테스터 어플리케이션의 경우 채널별로 추가 아날로그 하드웨어를 개발하거나 사용할 필요가 없습니다.

모든 구성 설정 및 내부 레지스터의 기록 및 읽기는 3 비트 직렬 데이터 CPU 포트를 통해 제어됩니다. CPU 포트는 일반적으로 테스트를 실행하기 전에 각 채널의 작동 조건을 설정하거나 테스트 중에 모드를 변경하는 데 사용됩니다.

데이터 시트의 뒷부분에 열거 된 내부 레지스터 차트 (메모리 맵)에는 모든 프로그래밍 가능한 제어 신호와 해당 주소가 나열되어 있습니다. 실시간 제어는 중앙 EN 및 DATA_ # 핀을 통해 수행됩니다. 실시간 관찰은 중앙 모니터를 통해 수행됩니다.

풍모

  • 채널당 DPS
    • FV, FI, MV, MI, HiZ Capability
    • 16V 전압 입력 준수 범위 측정
    • 2 포스 전압 범위 (8V, 16V)
    • 3 전압 범위 측정 (4V, 8V, 16V)
    • 6 전류 범위 : (256mA, 25.6mA, 2.56mA, 256μA,
      25.6μA, 2.56μA)
    • 프로그래밍 가능한 전류 클램프
  • 전원 관리
    • 독립적 인 출력 버퍼 전원 공급 장치 (VCCO)
    • 낮은 전류 범위에서 VCCO를 능가하는 능력 (특허
      대기 중)
  • 유연한 협동 능력
    • 최대 DPS 단위에 대한 제한 없음
  • 보호
    • 온칩 접합 온도 모니터
    • 칩당과 온도 초과 셧다운
    • 켈빈 연결 감지 / 채널 별 경보
    • 채널 당 과전류 감지 / 경보
  • 모든 채널에 연결할 수있는 글로벌 외부 포스 / 센스
  • 감시 장치
    • 칩당 하나의 범용 중앙 모니터
      • 확장 및 이동 기능
      • HiZ 기능
    • 칩 당 하나의 전용 측정 전류 모니터
    • 확장 및 이동 기능
    • HiZ 기능
  • 3 비트 직렬 CPU 포트
  • DC 레벨 생성을위한 온칩 DAC
    • 2 개의 독립적 인 FV 레벨 / 채널
    • 16 개의 선택 가능한 레벨이있는 중앙 리소스 모드
    • 독립적 인 소스 및 싱크 클램프 레벨 / 채널
    • 16 비트 / 레벨
    • 레벨 별 온칩 오프셋 및 이득 보정
  • 패키지 / 전력 소비
    • Pb-Free (RoHS 준수)
    • 128 리드, 14mmx20mm, LQFP, Exp 히트 슬러그
    • Pdq 100mW / 채널; Pdq 800mW / 칩
  • 응용 프로그램
    • 자동화 된 테스트 장비
    • 로직 / ASIC 검증기
    • 수단
ISL55180 엄지

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