次世代の半導体テストの推進

統合されたテスト技術における世界のリーダー

ElevATEでは、電力、速度、電圧、およびチップが動作するように設計されたシステム全体の主要なパラメーターから半導体のすべての機能をテストする集積回路を設計および構築します。

新しい高さへの半導体テストの実施

半導体テストは、テスト時間の短縮に向けて、より多くのデバイスを同時にテストすることで、テスト時間の短縮に向けて前進を続けています。さらに高速かつチャネル数が多いほど、可能な限り最小の電力を求める要求が高まるため、エンジニアがプロセスと設計の限界を押し上げることは困難です。

5Gテスト:問題と考慮事項

5Gとして知られる第5世代のセルラーテクノロジーは、電気通信、オートメーション、およびコンピューティングの大きな変革を可能にすることを約束します。ただし、5Gのパフォーマンス要件により、IC / SOCテスト、PCBアセンブリテスト、完成デバイステスト、およびネットワーク機器の適合性テストに一連の固有の課題が生じます。

ミステリー:Pin Electronics Trifectaの実現

ElevATEの目標は、速度、電力、密度に関して革新的なピンエレクトロニクス(PE)ソリューションをお客様に提供することです。山ミステリーは、この設計の3つの要素を実現します。速度を50%増加し、電力を67%削減し、合計サイズを75%削減します。 20年以上にわたるATEの専門知識、回路アーキテクチャの進歩、および最新のサブミクロンテクノロジーの使用を通じてそれを達成します。

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神秘

SOC 8進500 MHz統合型ピンエレクトロニクス/ DAC / PPMU /デスキュー

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